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STA-OPTS光电探测系统 |
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STA-OPTS光电探测系统主要应用于物理学、材料科学、半导体材料等领域；可测试光电探测器、光伏电池、半导体薄膜器件等；
功能包括低频噪声测试、（超）低频噪声测试、RTN测试与特性分析等，通过测试得到的1/f噪声、噪声功率谱等数据，能够直观反映器件内部晶格缺陷、界面电荷陷阱、载流子输运等情况，为材料组分优化、器件结构设计、制备工艺改良提供实验依据；
系统包括微型光学平台，低噪声电流放大器，频谱分析仪，光学显微镜等，核心模块采用进口品牌，保证测试精准度；
目前，STA-LFNT（超）低频噪声测试系统已应用于清华大学、南京大学、哈尔滨工业大学、大连理工大学、长春应化所、长春理工大学、南京大学、江南大学、河南师范大学、西南大学、厦门大学、宁波大学、南华大学、黑龙江大学等科研单位与院校。 |
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特点 |
应用 |
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fA级电流测试能力，屏蔽效果极佳，减少外界电磁干扰； |
材料学 |
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Repeat功能实现不同条件下曲线的同时测量与显示； |
物理学 |
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支持图片(bmp)和数据(xls)两种格式的同时存储； |
传感器 |
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真实1/f噪声的测试与分析，揭示缺陷对电流的动态影响； |
光伏器件 |
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底噪小于2×10-29A2/Hz（或1×10-31A2/Hz），轻松测试nA级（或pA级）电流噪声； |
钙钛矿等半导体材料研究方向 |
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直流与交流一键切换，物理去除直流分量对1/f曲线的影响； |
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动态平均可视化，RMS、Vector、Peak三种数据处理方式，最高平均500次； |
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在线选择时域数据，自动拟合计算并一键显示3dB带宽； |
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在线坏点删除功能，让曲线规律更加明显； |
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主要参数 |
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名称 |
参数 |
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偏置电压范围 |
±10 |
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电流分辨率 |
<10fA |
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数据采样率 |
2M/S |
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高速电流增益 |
103-1011 |
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低速电流增益 |
105-1014 |
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系统电流底噪 |
2X29-28 A2/Hz(低频)
1X10-31 A2/Hz
(超低频)
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低频噪声频率范围 |
1Hz-100KHz |
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超低频噪声频率范围 |
0.01Hz-10Hz |
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测试图 |
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