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Z 扫描技术
型号：STA-ZSS |
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Z扫描技术是1989年由Bahae提出并进行分析描述的，传统的简并四波混频法难以区分非线性折射和非线性吸收，也难以区分非线性折射率的正负。而Z扫描法完全克服了这些困难，逐渐成为简单而流行的实验技术，用于表征光学材料。样品沿聚焦高斯光束的轴线平移，并测量远场强度作为样品位置的函数。该方法实验装置简单，测量灵敏度高，并且能够测量非线性折射率大小、正负以及非线性吸收系数等。
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■ Z
扫描实验装置： |
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■ 实验示例： |
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通过改变样品相对聚焦高斯光束束腰的扫描位置Z，来测量远场接收屏上激光的归一化透过率T，从而获得材料的三阶或高阶非线性系数。
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特点：
l 532nm连续波DPSS激光器
l 光谱响应范围为0.19~15um的光电探测器
l 用户友好、高效便捷的软件界面
l 高灵活度的自由光路
l 实时扫描图像绘制
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