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Sunshine系列高灵敏度光谱仪 |
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特点：
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应用：
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激光光谱检测
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荧光光谱检测
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拉曼光谱检测
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LIBS光谱检测
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纺织印染工业
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化学分析
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医药检测及医疗诊断
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薄膜厚度测量
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吸光度/透射率/反射率测试
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系列型号 |
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型号 |
波长范围 |
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Sunshine 普通系列 |
GE 200-1100nm |
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GE 350-1100nm |
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GE-Raman 532-700nm |
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GE-Raman 785-1100nm |
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New |
Sunshine-UV-Pro |
185-240nm |
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New |
Sunshine-IR-Pro |
1000-1550nm |
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Sunshine外触发系列
EX-TA/ TB box可选 |
TG 200-1100nm |
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TG-Raman 532-700nm |
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TG-Raman 785-1100nm |
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技术参数 |
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探测器 |
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名称 |
滨松S11510 |
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探测范围 |
200-1100nm |
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像素数量 |
2048 pixels |
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像素大小 |
14*14um2 |
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光谱仪 |
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尺寸(mm) |
149*109*50 |
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重量(g) |
1000 |
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光学分辨率 |
取决于光栅刻线密度和狭缝大小（可提供多种选择） |
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信噪比 |
～450:1 |
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积分时间 |
17ms-10s |
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电学特性 |
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功耗 |
450mA@5VDC |
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数据传输速度 |
每4ms通过USB2.0全扫描内存；每18ms通过USB1.1全扫描内存 |
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曝光功能 |
有 |
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接口类型 |
30pin |
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尺寸 |
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149(L)×109(W) ×49.7(H) mm3 |
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应用领域 |
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相关配件 |
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